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裝片/鍵合光學檢測機 EM010D
 
EM010D主要應用于半導體分立器件、集成電路、LED產品的外觀檢測，可進行芯片、焊線、鋁帶、Clip、焊點等缺陷的判別以及尺寸的量檢測

  • 框架尺寸

    25-100mm

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    ≤0.05%

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